噪声参数测试系统

产品特点

1，超宽带频率测量范围，一次完成2-50GHz的噪声参数的提取。
2，优异的噪声提取算法，是整个噪声校准和测量的核心。
3，使用冷源法，测量精度和测量速度都得到明显的提升。
4，测量结果可以直接导入IC-CAP或是ADS。

产品定位

1， GaAs HBT 器件噪声参数的提取
2， Si CMOS 等器件的噪声模型
3， InP HBT 器件噪声参数的提取

产品概述

噪声参数测试系统，主要用于表征非50Ohm被测件的噪声参数，包括最小噪声系数，等效电阻，最佳阻抗的幅度和相位。系统包括输入噪声模块，输出噪声模块，噪声模块控制单元和输入阻抗调谐器（tuner），同时噪声接收机可以是频谱分析仪，噪声测试分析仪或者是Keysight PNA-X 内部的噪声选件（推荐使用这个配置，兼顾测量速度和测量精度）。Focus Microwaves 公司的软件FDCS（需要NPEx的option）针对噪声参数的测量有一套图文并茂的校准向导流程，协助用户完成校准和测量。FDCS软件会智能的根据器件的S参数，结合稳定性圆，测量若干个阻抗点，然后，通过数据运算给出最佳的噪声参数。